Цифровые микроскопы TECHKON SpectroPlate, Минск

Оптическая плотность D = 6.00 может измеряться в режиме проходящего света за очень короткое время и без потери точности

Цифровой микроскоп SpectroPlate может использоваться для измерения параметров аналоговых и CTP пластин, а также пленок и печатных оттисков.
Измерения: визуальный контроль на встроенном LCD дисплее и на экране PC, относительная площадь растровой точки, линеатура и угол наклона растра.
Инструмент применяется для измерения результатов всех видов растрирования - FM, AM и гибридного. Использование освещения широкого спектра позволяет работать со всеми видами пластин.
Точность измерений нового прибора обеспечивается качественной оптической системой и совершенными вычислительными алгоритмами, изображение захватывается цветной CMOS матрицей с разрешением 1024 x 1024 пиксел и большим динамическим диапазоном, вычисления осуществляются встроенным микропроцессором.

• ПЗС: 1024х1024 пиксел, 16 млн.цветов RGB, без компрессии;
• Апертура: 1х1 мм, сканирование изображения в реальном времени;
• Источник света: светодиод белого света;
• Время измерения: 1 секунда;
• Калибровка: предустановленная фабричная калибровка по шкале FOGRA (FMB), керамический стандарт белого в комплекте;
• Измеряемая площадь: 0.0 - 100.0 %;
• Измеряемая линеатура:
• АМ: 30 - 150 l/cm, 75 - 380 lpi;
• FM: 10 - 70 микрон;
• Повторяемость: +/- 0,5 %;
• Дисплей: монохромный высококонтрастный LCD дисплей, разрешение 240х160 пиксел, 16 градаций серого;
• Встроенная память: до 100 измерений (только в версии Expert);
• Источник энергии: Ni-MH аккумуляторная батарея, расчитана на 10.000 автономных измерений;
• Интерфейс: USB;
• Совместимось ПО: Microsoft Windows 2000/XP;
• Вес: 530 г;
• В комплекте: блок питания с заряднной консолью, USB-кабель, ПО SpectroPlate Connect.

SpectroPlate доступен в трёх модификациях (Start, Exert, All-Vision)

SpectroPlate Start
Параметры измерения:

• площадь растровой точки
• линиатура
• угол наклона растра
• разовые измерения

SpectroPlate Expert
Параметры измерения:

• площадь растровой точки с построением кривой растискивания
• геометрический анализ
• линеатура
• угол наклона растра
• память до 100 измерений

SpectroPlate All-Vision
Параметры измерения:

• измерения параметров всех не зависящих от химии пластин, включая беспроцессорные, площадь растровой точки с построением кривой растискивания
• геометрический анализ
• линиатура
• угол наклона растра
• память до 100 измерений