Микроскоп многофункциональный сканирующий зондовый NT-206, Гомель

Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп NT-206 представляет собой атомно-силовой микроскоп в комплексе с аппаратными и программными средствами, необходимыми для измерения и анализа микро- и субмикрорельефа поверхностей, объектов микро и нанометрового размерного диапазона, их микромеханических и других свойств с высоким разрешением. Встроенная видеосистема в сочетании с автоматизированной платформой микроперемещений обеспечивают удобство настройки прибора и возможность точно выбирать область измерений на поверхности образца, что качественным образом повышает функциональность прибора при работе с микрообъектами.

Multifunctional scanning probe microscope NT-206 is an atomic force microscope in a complex with hardware and software enabling analysis of topography and micromechanical properties of solid surfaces with nanometer resolution.
Embedded videosystem in combination with motorized XY micropositioning stage provide convenient tuning of the instrument and its fine targeting onto the features on the sample surface. All that dramatically enhances the instrument's functionality when researching micro- and nanosize objects.
To meet requirements of specific research tasks, AFM NT-206 can include specialized changeable probe holders for microtribometry and adhesiometry or for nanoindentation.