Автоматизированный интерференционный микропрофилометр АИМ, Минск

Автоматизированный интерференционный микропрофилометр создан на базе микроинтерферометра МИИ-4М, широко используемого для промышленного контроля и измерений в металлообработке, микроэлектронике, производстве тонких пленок и т.д. Для автоматизации измерений реализован метод дискретного фазового сдвига при помощи управляемого от компьютера зеркала на пьезоэлементе, встроенного в опорное плечо микроинтерферометра. Интерферограммы при различных положениях опорного зеркала с помощью встроенной ПЗС камеры через устройство ввода изображения поступают в персональный компьютер, где производится их автоматическая обработка. Результаты измерений в виде 2D и 3D профилей объекта, графиков и гистограмм отображаются на экране компьютера, а также могут быть выведены на принтер для печати.
Для точного позиционирования объекта микропрофилометр может быть снабжен двухкооpдинатным автоматизированным предметным столом с шаговыми двигателями, управляемым от компьютера.

• бесконтактное измерение микропрофиля отражающих поверхностей;
• измерение высотных и шаговых параметров шероховатости;
• измерение толщины тонких пленок;
• динамические измерения;

• возможность исследования живых неокрашенных клеток;
• морфометрия клеток;
• измерение сухого веса клеток с точностью 10-12 г;
• измерение показателя двулучепреломления;
• оценка состояния популяции клеток;
• динамическая фазовая микроскопия.
• 
  СОСТАВ
  
• базовый модернизированный микроинтерферометр МИИ-4М;
• лазерный источник освещения;
• управляемое от компьютера опорное зеркало на пьезоэлементе;
• две встроенные ПЗС камеры;
• плата ввода изображения;
• плата управления пьезозеркалом;
• пакет прикладных программ с руководством пользователя;
• управляемый от компьютера двухкоординатный автоматизированный предметный стол с шаговыми двигателями;
• плата управления автоматизированным предметным столом.

• сечения (горизонтальное и вертикальное сечения профиля в любой выбранной точке);
• псевдоцветное изображение (псевдоцветное изображение профиля с двумя взаимно перпендикулярными сечениями в любой выбранной точке);
• таблица значений (таблица значений высоты профиля в прямоугольной области профиле);
• 3D изображение (3D изображение профиля с возможностями масштабирования и вращения);
• протокол (протокол измерений, включающий в себя любой из перечисленных видов представления).